姓名：李沈軒????學(xué)號(hào)：20181214373????學(xué)院：廣研院

【原文鏈接】IC集成電路 測(cè)試與驗(yàn)證的區(qū)別？ - 知乎 (zhihu.com)

【嵌牛導(dǎo)讀】本文介紹了ic驗(yàn)證和測(cè)試的區(qū)別

【嵌牛鼻子】驗(yàn)證 測(cè)試

【嵌牛提問】什么是驗(yàn)證？什么是測(cè)試？?jī)烧哂泻螀^(qū)別？

【嵌牛正文】

在數(shù)字IC中，驗(yàn)證與測(cè)試完全是兩個(gè)概念。

驗(yàn)證是在pre-silicon 階段，也就是流片之前，隨著設(shè)計(jì)一起進(jìn)行的。驗(yàn)證的主要目的是保證芯片邏輯功能的正確性和功能的完備性。

驗(yàn)證的一般流程如下：

測(cè)試是在post-silicon階段，也就是流片之后。主要測(cè)試芯片在制造過程中是否有缺陷，從而篩選出有問題的芯片，再對(duì)其進(jìn)行分類。

芯片制造過程中常見的缺陷如下：