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前言

我們在做app的時候，不是做完功能就結(jié)束了，很多時候是需要進行檢查和優(yōu)化的，而xcode自帶了一個很好的檢查工具，可以檢測內(nèi)存泄漏。還可以查看哪一個方法比較耗時。還可以檢測離屏渲染等等，隨后的幾篇我們就說一下這個工具的使用。感興趣的可以看這幾篇。
1.INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（一）
2.INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（二）
3.INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（三）
4.INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（四）
5.INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（五）
6.INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（六）
7.INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（七）
8.INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（八）
9.INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（九）
10. INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（十）
11. INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（十一） —— 簡介（一）
12. INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（十二） —— 通常任務(wù)之啟動Instruments（一）
13. INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（十三） —— 通常任務(wù)之簡單了解Instruments（二）
14. INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（十四） —— 通常任務(wù)之創(chuàng)建、保存和打開跟蹤文檔（三）
15. INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（十五） —— 通常任務(wù)之指定目標應(yīng)用和設(shè)備（四）
16. INSTRUMENTS調(diào)試工具的使用（十六） —— 通常任務(wù)之訪問和使用個別儀器（五）

Record, Pause, and Stop Traces - 記錄、暫停和停止跟蹤

儀器在運行時收集有關(guān)您的應(yīng)用的信息。 本章介紹如何指導(dǎo)儀器收集信息。

Record a Trace - 記錄跟蹤

當你準備好分析你的應(yīng)用時，你開始記錄。 在記錄時，跟蹤文檔中的instruments將根據(jù)其配置監(jiān)控您的應(yīng)用。 發(fā)生記錄時，時間軸窗格和詳細信息窗格將更新以提供捕獲內(nèi)容的實時視圖。

To begin recording - 開始錄制

執(zhí)行以下操作之一：

• 單擊跟蹤文檔工具欄中的記錄按鈕。
• 選擇File> Record Trace（或按Command-R）。

再次點擊Command-R停止記錄。

1. Set Recording Options - 設(shè)置錄制選項

設(shè)置記錄選項以改善跟蹤文檔中的數(shù)據(jù)收集。 記錄前選擇延遲時間，要記錄的時間長度，要保存的數(shù)據(jù)量或是否以延遲模式記錄數(shù)據(jù)。

To set the recording options for a trace - 設(shè)置跟蹤的錄制選項

• 1）選擇File> Record Options打開Record Options對話框

• 2）根據(jù)需要自定義設(shè)置

選項包括：

• Time limit - 時間限制：儀器將記錄數(shù)據(jù)的最長時間（以秒為單位）。
• Window limit - 窗口限制：將被保存的數(shù)據(jù)的最大持續(xù)時間（以秒為單位）。 如果記錄的持續(xù)時間超過指定窗口限制的時間（例如，超過4秒），則僅保存最近4秒內(nèi)收集的數(shù)據(jù)。
• Deferred mode - 延遲模式：選擇推遲數(shù)據(jù)分析，直到數(shù)據(jù)收集完成。 這可以導(dǎo)致更快和更準確的數(shù)據(jù)收集，因為更多的系統(tǒng)資源針對正在記錄的過程。

注意：如果不適用于跟蹤文檔中的工具或儀器中的首選項配置，則可能禁用此對話框中的某些選項。 要確定選項被禁用的原因，請將鼠標懸停在該選項上幾秒鐘以查看其工具提示。OS X 10.7或更高版本以及iOS 5或更高版本支持Window Limit。

• 3）點擊OK關(guān)閉Record Options對話框。

Pause a Trace - 暫停跟蹤

如有必要，您可以暫停錄制并在稍后再次恢復(fù)。

To pause an active recording - 暫停活動錄制

執(zhí)行以下操作之一：

• 單擊跟蹤文檔工具欄中的暫停按鈕。
• 選擇File> Pause Trace（或按Shift-Command-R）。

Stop a Trace - 停止跟蹤

一旦記錄了所需的數(shù)據(jù)，請停止記錄，以便開始分析收集的數(shù)據(jù)。

To stop an active recording - 停止活動錄制

執(zhí)行以下操作之一：

• 單擊跟蹤文檔工具欄中的停止按鈕。
• 選擇File > Stop Trace（或按Command-R）。

Profile from the Dock - Dock中Profile

您可以通過從Dock中的Instruments應(yīng)用程序圖標觸發(fā)Time Profiler來自動記錄后臺中的某些事件。

To collect Time Profiler information from the Dock - 從Dock中收集Time Profiler信息

• 1）打開Instruments，按住Control鍵并點按Dock中的Instruments圖標。

• 2）在出現(xiàn)的快捷菜單中，選擇進程配置文件開始錄制。

選項包括：

• System Time Profile - 系統(tǒng)時間分析。 開始分析所有系統(tǒng)進程。
• Time Profile Specific Process - 時間分析特定過程。 使用子菜單中的特定應(yīng)用程序啟動Time Profiler儀器。
• Automatically Time Profile Spinning Applications - 自動時間輪廓旋轉(zhuǎn)應(yīng)用程序。 自動配置文件阻止（旋轉(zhuǎn)）的應(yīng)用程序在未來。
• Allow Tracing of Any Process (10 hours) - 允許追蹤任何進程（10小時）。 跟蹤在接下來的10個小時內(nèi)發(fā)生的任何過程。 在10個小時內(nèi)必須輸入密碼。

注意：以這種方式記錄的數(shù)據(jù)以.dtps格式保存到?/ Library / Application Support / Instruments / Unimported /。

Profile from Xcode - 從Xcode中Profile

儀器是Xcode開發(fā)工作流程的關(guān)鍵組件，您可以在構(gòu)建和測試您的應(yīng)用程序時直接從Xcode啟動它。

1. Profile from the build and product menus - 構(gòu)建和產(chǎn)品菜單中的配置文件

Xcode構(gòu)建菜單允許您運行，測試和分析您的應(yīng)用程序。 它還可以讓你用儀器來分析你的應(yīng)用程序。

To profile your app from the Xcode build and product menus - 從Xcode構(gòu)建和產(chǎn)品菜單中分析您的應(yīng)用程序

• 1）在Xcode中打開一個應(yīng)用程序項目。

• 2）執(zhí)行以下操作之一：

• 點擊并按住Xcode主窗口中的構(gòu)建菜單，然后從出現(xiàn)的菜單中選擇配置文件。

• 選擇Product > Profile (or press Command-I)

儀器啟動，并出現(xiàn)分析模板選擇對話框。 請注意，您的應(yīng)用程序是在目標設(shè)備和進程列表中自動選擇的。

To use a default template when profiling from the Xcode build and product menus - 從Xcode構(gòu)建和產(chǎn)品菜單進行分析時使用默認模板

• 1）在Xcode中打開一個應(yīng)用程序項目。
• 2）執(zhí)行以下操作之一打開方案編輯器對話框：
  • 從Xcode主窗口工具欄中的目標設(shè)備列表中選擇Edit Scheme。

• 選擇Product > Scheme > Edit Scheme，或按命令Command–Less Than (<)。

• 3）在方案編輯器對話框的邊欄中單擊配置文件。

• 4）從Instrument彈出式菜單中選擇所需的分析模板

• 5）點擊關(guān)閉。

現(xiàn)在，無論何時profile應(yīng)用程序，Instruments都會自動在您在方案編輯器對話框中選擇的模板中打開它，并開始分析。

2. Profile from Xcode gauges while debugging - 在調(diào)試過程中從Xcode gauges配置文件

Xcode調(diào)試導(dǎo)航器包含幾個測量儀，用于在測試和調(diào)試時監(jiān)視應(yīng)用程序。 這些儀表跟蹤各種因素，包括CPU使用率，內(nèi)存和能量影響，并可以提醒您潛在的問題，這些問題可能會影響性能，功耗等等。 如果您在測試應(yīng)用程序時發(fā)現(xiàn)想要進一步調(diào)查的趨勢，則可以將監(jiān)視轉(zhuǎn)換到儀器以進行更詳細的分析。

To initiate profiling from an Xcode gauge - 從Xcode測量儀開始分析

• 1）在Xcode中打開一個應(yīng)用程序項目并運行它。

• 2）在您的應(yīng)用程序正在運行時，通過執(zhí)行以下操作之一來顯示調(diào)試導(dǎo)航器：

• 單擊導(dǎo)航器選擇欄中的Debug Navigator按鈕。

• 選擇View > Navigators > Show Debug Navigator (or press Command-6)。

• 3）在調(diào)試導(dǎo)航器中單擊所需的量表。

• 4）在主編輯器中單擊儀器的儀器配置文件按鈕。

請注意，并非每個Xcode儀表在Instruments按鈕中都有個Profile。 例如，Energy Impact測量儀包含幾個用于啟動儀器中不同類型分析會話的按鈕。

• 5）當出現(xiàn)提示時，選擇是否將當前正在運行的應(yīng)用程序?qū)嵗D(zhuǎn)移到Instruments或停止應(yīng)用程序并使用Instruments啟動它的新實例。

在這兩種情況下，請注意Xcode停止分析您的應(yīng)用程序，啟動工具并啟動分析。 如果您選擇傳輸會話，Instruments將開始分析當前狀態(tài)下的應(yīng)用程序。

Profile from the Command Line - 從命令行進行分析

1. Profile with instruments - 使用instruments分析

使用instruments命令行工具（參見instruments(1) Mac OS X Developer Tools Manual Page），使用指定模板對應(yīng)用程序進行分析，而無需啟動儀器。 在分析過程中收集的數(shù)據(jù)將保存在.trace文件中的指定目錄中。 分析完成后，您可以使用instruments打開記錄的數(shù)據(jù)文件以查看數(shù)據(jù)的可視表示。

To profile with instruments - 用儀器分析

• 1）打開終端，在/ Applications / Utilities中。
• 2）輸入instruments命令收集數(shù)據(jù)。

例如，以下命令使用Allocations模板對應(yīng)用程序進行分析并將結(jié)果保存到.trace文件中的桌面。

instruments -t "Allocations" -D ~/Desktop/
.trace

• 3）打開Instruments，然后選擇File > Open。

• 4）找到您保存的.trace文件，然后單擊打開。

打開保存的文件后，Instruments會自動將相關(guān)儀器添加到跟蹤文檔中，并使用收集的數(shù)據(jù)填充它們。 您可以查看和分析數(shù)據(jù)，以查找與您的應(yīng)用程序有關(guān)的任何問題。

2. instruments Options - instruments選項

instruments提供以下一組配置選項來定義要收集的數(shù)據(jù)。

3. Collect and view data with iprofiler - 使用iprofiler收集和查看數(shù)據(jù)

使用iprofiler命令行工具（請參閱iprofiler(1) Mac OS X Developer Tools Manual Page）來測量應(yīng)用程序的性能，而無需啟動儀器。收集性能數(shù)據(jù)后，將其導(dǎo)入儀器以查看數(shù)據(jù)的直觀表示。由iprofiler收集的數(shù)據(jù)保存在一個可由Instrument打開的.dtps包中。 iprofiler支持以下類型的分析工具：

• Activity Monitor - 活動監(jiān)視器。監(jiān)視整個系統(tǒng)活動和統(tǒng)計信息，包括CPU，內(nèi)存，磁盤和網(wǎng)絡(luò)?；顒颖O(jiān)視器還監(jiān)視所有現(xiàn)有進程和父/子流程層次結(jié)構(gòu)。
• Allocations - 分配。通過跟蹤allocations來測量堆內(nèi)存使用情況，包括按類分配的特定對象allocations。分配也可以按區(qū)域記錄虛擬內(nèi)存統(tǒng)計數(shù)據(jù)。
• Counters - 計數(shù)器。使用基于時間或事件的采樣方法收集性能監(jiān)視器計數(shù)器事件。
• Event Profiler - 事件分析器。通過低開銷，基于事件的采樣來對系統(tǒng)CPU上運行的進程進行采樣。
• Leaks - 泄漏。測量一般內(nèi)存使用情況，檢查泄漏的內(nèi)存，并提供關(guān)于對象分配的統(tǒng)計信息以及所有活動分配和泄漏塊的內(nèi)存地址歷史記錄。
• System Trace - 系統(tǒng)跟蹤。提供有關(guān)系統(tǒng)行為的全面信息。系統(tǒng)跟蹤顯示線程調(diào)度的時間，并通過系統(tǒng)調(diào)用或內(nèi)存操作顯示從用戶代碼到系統(tǒng)代碼的所有轉(zhuǎn)換。
• Time Profiler - 時間分析器。對系統(tǒng)CPU上運行的進程執(zhí)行低開銷，基于時間的采樣。

To collect and view data from iprofiler - 從iprofiler中收集和查看數(shù)據(jù)

• 1）打開終端，在/ Applications / Utilities中。
• 2）輸入一個iprofiler命令來收集數(shù)據(jù)。

例如，以下命令在您的應(yīng)用上執(zhí)行Activity Monitor跟蹤5秒鐘，并將結(jié)果保存到桌面上的.dtps文件。

iprofiler -activitymonitor -T 5s -d?/ Desktop /

• 3）打開Instruments，然后選擇File > Open。

• 4）找到你保存的.dtps文件，點擊打開

打開保存的文件后，儀器會自動將相關(guān)儀器添加到跟蹤文檔中，并使用收集的數(shù)據(jù)填充它們。 您可以查看和分析數(shù)據(jù)，以查找與您的應(yīng)用程序有關(guān)的任何問題。

4. iprofiler Options - iprofiler選項

iprofiler提供下面的配置選項以定義要收集的數(shù)據(jù)。

5. iprofiler Examples - iprofiler示例

以下是常見的iprofiler命令行示例列表。

本示例使用Time Profiler和Activity Monitor工具收集來自儀器中設(shè)置的當前采樣持續(xù)時間的所有正在運行的進程的數(shù)據(jù)。 收集的數(shù)據(jù)以allprocs.dtps格式保存到工作目錄。

iprofiler -timeprofiler -activitymonitor

以下示例使用Time Profiler工具打開并收集YourApp中的數(shù)據(jù)。 數(shù)據(jù)收集8秒鐘，數(shù)據(jù)保存在/temp/YourApp_perf.dtps。

iprofiler -T 8s -d /temp -o YourApp_perf -timeprofiler -a YourApp

以下示例使用Leaks 和 Activity Monitor工具從具有823進程ID的進程收集數(shù)據(jù)。 數(shù)據(jù)收集2500毫秒（2.5秒）并以YourApp_perf.dtps保存到工作目錄。

iprofiler -T 2500ms -o YourApp_perf -leaks -activitymonitor -a 823

以下示例使用Time Profiler和Allocations工具打開并收集YourApp中的數(shù)據(jù)。 數(shù)據(jù)按照在Instruments中設(shè)置的默認時間收集并保存在/tmp/allprocs.dtps中。

iprofiler -d / tmp -timeprofiler -allocations -a YourApp.app

以下示例使用Time Profiler和System Trace工具打開和收集/path/to中帶有參數(shù)arg1的YourApp中的數(shù)據(jù)。 數(shù)據(jù)收集15秒，但只保存最近2秒內(nèi)收集的數(shù)據(jù)。 數(shù)據(jù)以YourApp_perf.dtps的形式保存到工作目錄。

iprofiler -T 15 -I 1000ms -window 2s -o YourApp_perf -timeprofiler -systemtrace /path/to/Your.app arg1

Minimize Instruments Impact on Data Collection - 最小化儀器對數(shù)據(jù)采集的影響

Instruments旨在最大限度地減少其對數(shù)據(jù)收集的影響。 但是，通過改變一些基本設(shè)置，您可以進一步降低儀器對數(shù)據(jù)收集的影響。

您可以減小i許多儀器的采樣間隔，以便收集更多數(shù)據(jù)。 但是，由于采樣間隔較短而導(dǎo)致的高采樣率可能會導(dǎo)致幾個問題：

• Processor time is required for every sample - 每個樣品需要處理器時間。 高采樣率使用更多的處理器時間。
• Sample interval timing may not be consistent - 采樣間隔時間可能不一致。 中斷用于啟動每個采樣。 使用非常小的采樣間隔時，發(fā)生這些中斷時的變化可能會導(dǎo)致采樣率的顯著變化。
• Small sample intervals cause more samples to be taken - 小的采樣間隔會導(dǎo)致采集更多的采樣。 每個樣本使用系統(tǒng)內(nèi)存，并且大量樣本快速占用內(nèi)存較少的機器上的可用內(nèi)存。

1. Run Instruments in Deferred Mode - 以延遲模式運行儀器

通過延遲數(shù)據(jù)分析來提高性能相關(guān)數(shù)據(jù)的準確性，直到您退出正在測試的應(yīng)用程序。通常，儀器會在您的應(yīng)用運行時分析和顯示數(shù)據(jù)，以便您在收集數(shù)據(jù)時查看數(shù)據(jù)。執(zhí)行分析時，會通過占用CPU時間和內(nèi)存來降低目標進程速度，這會給您留下可能無法反映進程通常情況下的行為的測量結(jié)果。在延遲模式下運行儀器會延遲數(shù)據(jù)分析，直到數(shù)據(jù)收集完成，無論是在您的應(yīng)用程序運行完畢后還是在您單擊停止后。在延遲模式下，您被阻止與正在收集數(shù)據(jù)的儀器進行交互。

在延期模式下，儀器完成數(shù)據(jù)收集后，儀器會處理數(shù)據(jù)并將其顯示在屏幕上。推遲數(shù)據(jù)分析為數(shù)據(jù)收集過程的后期階段增加了時間，但它有助于確保與性能相關(guān)的數(shù)據(jù)的準確性。

To set deferred mode for Instruments - 為儀器設(shè)置延遲模式

• 1）選擇Instruments > Preferences。

• 2）在Recording窗格中，選中Always use deferred mode復(fù)選框

對于特別長的跟蹤，由延遲模式引起的延遲可能很大。 通過為僅需要非常精確的數(shù)據(jù)收集的跟蹤設(shè)置延遲模式來避免這種延遲。

To set deferred mode for a trace - 為跟蹤設(shè)置延遲模式

• 1）選擇File > Record Options。

• 2）在出現(xiàn)的對話框中，選擇延遲模式復(fù)選框，然后單擊確定。

如果在Instruments偏好設(shè)置中啟用了Always use deferred mode，則此選項將被禁用。

后記

本篇主要介紹了記錄、暫停和停止跟蹤感興趣的給個贊或者關(guān)注~~~