一．目的
提高軟件開發(fā)人員的開發(fā)質(zhì)量，從測(cè)試部門角度提供有效的度量數(shù)據(jù)作為開發(fā)質(zhì)量度量的部分參考，對(duì)軟件開發(fā)的過(guò)程所產(chǎn)生的質(zhì)量結(jié)果進(jìn)行定量的評(píng)價(jià)。
二．度量維度
2.1 缺陷密度(Dd)
缺陷測(cè)量是以每1測(cè)試工時(shí)所反映的缺陷數(shù)(Defects/T)來(lái)測(cè)量的。稱為缺陷密度(Dd)，其測(cè)量單位是defects／h。缺陷密度=缺陷數(shù)量/測(cè)試所需工時(shí)數(shù)。
2.2 冒煙不通過(guò)次數(shù)
產(chǎn)品提交至測(cè)試部進(jìn)行冒煙測(cè)試不通過(guò)的次數(shù)。
2.3 釘釘測(cè)試任務(wù)單
以每個(gè)釘釘測(cè)試任務(wù)單進(jìn)行統(tǒng)計(jì)一次。
2.4 涉及部門、人員
每月統(tǒng)計(jì)維度涉及到的開發(fā)部門或具體開發(fā)人員。
三．質(zhì)量度量
3.1 度量指標(biāo)
主要根據(jù)度量數(shù)據(jù)指定特定的計(jì)算公式，從量化的數(shù)據(jù)中形成度量指標(biāo)。
3.2 缺陷密度(Dd)計(jì)算
缺陷密度(Dd)計(jì)算公式1為：Q1 = (B/T)
其中：B表示Bug數(shù)，T表示測(cè)試所用工時(shí)。
說(shuō)明：開發(fā)周期內(nèi)完成的軟件所出現(xiàn)的Bug數(shù)，從數(shù)量結(jié)果反映質(zhì)量，Q1越大，質(zhì)量越差。
缺陷密度(Dd)計(jì)算公式2為：Q2 = Σ(B*C/T)
其中：B表示Bug數(shù)，C表示Bug權(quán)重，T表示測(cè)試所用工時(shí)。
說(shuō)明：
1. Bug嚴(yán)重級(jí)別說(shuō)明：Bug級(jí)別分致命、嚴(yán)重、一般、輕微四個(gè)級(jí)別，從質(zhì)量結(jié)果反映質(zhì)量，Q2越大，質(zhì)量越差。
2. 致命Bug權(quán)重為1.5，嚴(yán)重Bug權(quán)重為1，一般Bug權(quán)重為0.6，輕微Bug權(quán)重為0.4；
四．度量結(jié)果
4.1 缺陷密度(Dd)
缺陷密度(Dd)表明產(chǎn)品版本質(zhì)量，能部分反映開發(fā)人員技術(shù)水平、代碼能力。缺陷密度越低，則表明產(chǎn)品版本質(zhì)量越高，相關(guān)開發(fā)人員水平越高。
Q1、Q2用公司歷史數(shù)據(jù)作為衡量對(duì)比。
4.2 冒煙不通過(guò)次數(shù)
冒煙測(cè)試表明的是產(chǎn)品版本是否達(dá)到能夠進(jìn)入測(cè)試的門檻。
產(chǎn)品版本提交給測(cè)試部需進(jìn)行冒煙測(cè)試，而冒煙測(cè)試不通過(guò)則會(huì)打回該測(cè)試進(jìn)行修改后重新提交測(cè)試。在排除測(cè)試環(huán)境問(wèn)題導(dǎo)致冒煙測(cè)試不通過(guò)的情況下：產(chǎn)品版本打回冒煙測(cè)試的次數(shù)越多，則產(chǎn)品版本質(zhì)量越低，相關(guān)開發(fā)人員未做自測(cè)，工作態(tài)度較不認(rèn)真。
4.3 統(tǒng)計(jì)維度
以每個(gè)釘釘產(chǎn)品測(cè)試單統(tǒng)計(jì)一次，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)涉及：產(chǎn)品測(cè)試的Bug數(shù)、Bug嚴(yán)重級(jí)別、優(yōu)化建議數(shù)、提測(cè)部門、測(cè)試人員、開發(fā)人員等等。
