芯片驗(yàn)證筆記-1

現(xiàn)代集成電路之中,verification 所占用的時(shí)間可達(dá)到60%-70%左右。其中一種驗(yàn)證就是功能驗(yàn)證,指的是不考慮綜合、電路布線之后所帶來的電路延遲等等現(xiàn)象,只考慮系統(tǒng)的邏輯正確性的一種驗(yàn)證方式。

目前業(yè)界主流的驗(yàn)證方法主要是以UVM(Universal Verification Methodology)為代表的驗(yàn)證方法學(xué),通常使用隨機(jī)約束的方式,在電路仿真中自動(dòng)產(chǎn)生受控的隨機(jī)輸入,從而驅(qū)動(dòng)驗(yàn)證電路并完成驗(yàn)證功能。隨著UVM的發(fā)展和廣泛使用,特別是其中SystemVerilog語言加入了面向?qū)ο?、功能覆蓋、隨機(jī)約束等更加類似軟件開發(fā)的特性,使得驗(yàn)證平臺間模塊重用的效率得到提升,編程結(jié)構(gòu)化變好,代碼更加靈活。(from https://zhuanlan.zhihu.com/p/35411326)

由于VLSI的復(fù)雜性,目前存在meltdown和spectre 現(xiàn)象的出現(xiàn)。

形式化驗(yàn)證和基于電路仿真的驗(yàn)證方法的最根本不同在于,形式化驗(yàn)證并不基于某些給定的輸入向量,而是通過數(shù)學(xué)方法分析、推導(dǎo)并證明某個(gè)邏輯功能在給出的邊界范圍內(nèi)是否與設(shè)計(jì)規(guī)約完全吻合,若不吻合則會(huì)給出一個(gè)反例。在上面舉的例子中,形式化驗(yàn)證可以從給定的復(fù)位狀態(tài)開始,用數(shù)學(xué)方法自動(dòng)探索并覆蓋整個(gè)狀態(tài)空間

?著作權(quán)歸作者所有,轉(zhuǎn)載或內(nèi)容合作請聯(lián)系作者
【社區(qū)內(nèi)容提示】社區(qū)部分內(nèi)容疑似由AI輔助生成,瀏覽時(shí)請結(jié)合常識與多方信息審慎甄別。
平臺聲明:文章內(nèi)容(如有圖片或視頻亦包括在內(nèi))由作者上傳并發(fā)布,文章內(nèi)容僅代表作者本人觀點(diǎn),簡書系信息發(fā)布平臺,僅提供信息存儲(chǔ)服務(wù)。

相關(guān)閱讀更多精彩內(nèi)容

友情鏈接更多精彩內(nèi)容