介電阻抗譜儀、介電溫譜儀是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電性能測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。它由硬件設(shè)備和測(cè)量軟件組成，包括高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫測(cè)試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測(cè)量系統(tǒng)軟件四個(gè)組成部分。

高溫測(cè)試平臺(tái)是為樣品提供一個(gè)高溫環(huán)境；高溫測(cè)試夾具提供待測(cè)試樣品的測(cè)試平臺(tái)；阻抗分析儀則負(fù)責(zé)測(cè)試各組參數(shù)數(shù)據(jù)。最后，再通過(guò)測(cè)量軟件將這些硬件設(shè)備的功能整合在一起，形成一套由實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)到溫度控制、參數(shù)測(cè)量、圖形數(shù)據(jù)顯示與數(shù)據(jù)分析于一體的介電阻抗譜儀、介電溫譜儀。

長(zhǎng)沙三琦介電溫譜儀可測(cè)量陶瓷、薄膜、半導(dǎo)體等塊狀材料，可與WK6500系列、Agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分析儀集成使用，組成一套集實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)、測(cè)量、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)分析的高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)?？赏瑫r(shí)測(cè)量及輸出頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜、介電溫譜的測(cè)量數(shù)據(jù)與圖形。測(cè)試頻率為DC-30MHz。