ADS的設(shè)計(jì)流程
- ADS: 2015.01
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新建文件 > 新建原理圖 > design guide > Amplifier >Dc and Bias Point Simulation > FET Noise Fig,.S-Parameter,Gain, Stability and Circuit VS Bias
直流工作點(diǎn)掃描.png
- 原理圖分析
- 直流特性曲線的掃描，同時(shí)選取合適靜態(tài)工作點(diǎn)，進(jìn)行噪聲系數(shù)，功率匹配點(diǎn)的選擇。
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如下圖所示，首先，在兩個(gè)Smith原圖的中間的掃描曲線中，選擇合適的靜態(tài)工作點(diǎn)。
3.根據(jù)此時(shí)工作點(diǎn)的選取，確定輸入輸出源阻抗。
掃描后的顯示曲線.png
- Design Guide 詳解
- Design Guide 中的基本原件搭建好之后，加上理想的電源偏置,同時(shí)加上DC_Blook, DC_Feed,等理想元器件將穩(wěn)定性因子調(diào)制0.7以上。穩(wěn)定性因子不需要一開始調(diào)至1以上，等實(shí)際原件加入后，寄生的電阻會(huì)增大電路的穩(wěn)定性。
- 在左邊Smith圓圖中選擇合適的源端阻抗（圖中給出的源端反射系數(shù)，底下相應(yīng)圖表反映了反射系數(shù)對(duì)應(yīng)的阻抗值，通過(guò)這個(gè)來(lái)匹配整個(gè)電路），對(duì)應(yīng)的黑色點(diǎn)，會(huì)隨著源級(jí)的變動(dòng)發(fā)生改變。意味著最小噪聲匹配時(shí)的輸出端阻抗的合適值應(yīng)該為多少。
- 右圖中的Smith 圓圖中選擇最佳的負(fù)載反射系數(shù)，（同樣底端圖表展示了反射系數(shù)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的阻抗值）對(duì)應(yīng)的源級(jí)發(fā)射系數(shù)點(diǎn)也在更新，這種變化反映的是最大功率傳輸時(shí)的反射系數(shù)。
- 實(shí)際操作中，我們應(yīng)將這兩個(gè)Smith圖中的相應(yīng)點(diǎn)對(duì)應(yīng)起來(lái)。但是如果很難做到完全對(duì)應(yīng)時(shí)，在LNA的第一級(jí)中應(yīng)考慮最小噪聲匹配。
- 小技巧
如圖所示，想要在S-PARAMETER掃描的同時(shí)加入直流掃描的方法是:1.首先加入S參數(shù)仿真器。2.加入直流掃描仿真器。3.加入PARAMETER SWEEP仿真器，將掃描變量與仿真器分別設(shè)置為VDC和S參數(shù)仿真器的名稱 4.加入PARAMETER SWEEP仿真器，將掃描變量與仿真器分別設(shè)置為VGS和直流仿真器。 - 這樣就完成了在S參數(shù)掃描中，加入直流參數(shù)掃描。也就是改變直流參數(shù)，就可以看到S參數(shù)的改變。
參數(shù)掃描.png
