錯誤推斷法是測試者根據(jù)經(jīng)驗來判斷產(chǎn)品在哪些地方容易出現(xiàn)問題，然后針對這些地方來設(shè)計測試用例的方法。

錯誤推斷法是一種基于經(jīng)驗的測試設(shè)計方法。使用錯誤推斷法來設(shè)計測試用例，測試用例的有效性（測試用例發(fā)現(xiàn)缺陷的能力）會比較高，但也容易引發(fā)過度測試——測試者可能會為了發(fā)現(xiàn)缺陷而測試得過于嚴苛，卻忽視對一些基本功能和場景的測試驗證，造成測試遺漏。

一般來說，建議把錯誤推斷法和基于模型的測試設(shè)計法放在一起使用，如前面介紹的測試設(shè)計四步法的第四步，在保證測試用例對場景、功能、設(shè)計有一定覆蓋度的基礎(chǔ)上，進一步增加測試用例的有效性。

錯誤推斷法中的“經(jīng)驗”，主要源于對產(chǎn)品缺陷的分析。錯誤推斷法的操作步驟如圖。

在上圖中對非測試用例發(fā)現(xiàn)的缺陷進行分析時，用了很多啟發(fā)式的問題，可以一邊給自己提問題，一邊記錄下想到的“靈感”；也可以由一個團隊來進行上述過程，大家一起來激發(fā)靈感，拓展思路，提高測試用例設(shè)計的有效性。

摘取自劉琛梅老師的《測試架構(gòu)師修煉之道：從測試工程師到測試架構(gòu)師 第2版》