粒子濾波

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上圖中還應(yīng)打出地標(biāo)的位置。

粒子濾波的核心思路是通過(guò)兩種測(cè)量的比較,反推出觀測(cè)者本身的位置。
測(cè)量類(lèi)型I: 從未知觀測(cè)者未知A到已知地標(biāo)位置B的測(cè)量
測(cè)量類(lèi)型II: 從某個(gè)粒子C到已知地表位置B(x_1,y_1)的測(cè)量(x_c,y_c)。

如果(x_c,y_c)與已知的真實(shí)值(x_1,y_1)越接近,則這個(gè)粒子的權(quán)重w就越大。粒子C被重采樣保留下來(lái)的概率就越大。重采樣集合中的點(diǎn)就更多的接近于(更能代表)真實(shí)位置。

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