背景 為了提升減輕測(cè)試回歸壓力，提高項(xiàng)目開發(fā)交付質(zhì)量，我們開發(fā)和測(cè)試團(tuán)隊(duì)合作在部分項(xiàng)目內(nèi)執(zhí)行自動(dòng)化測(cè)試。 為了更好的理解，我們對(duì)mock的需要，先來看下wiki上對(duì)自動(dòng)化測(cè)試...
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針對(duì)Dubbo接口Mock的解決方案