1.算法硬件測試效果
本文是之前寫的文章
《基于FPGA的4FSK+幀同步系統(tǒng)verilog開發(fā),包含testbench,高斯信道,誤碼統(tǒng)計,可設(shè)置SNR》
的硬件測試版本。
在系統(tǒng)在仿真版本基礎(chǔ)上增加了ila在線數(shù)據(jù)采集模塊，vio在線SNR設(shè)置模塊，數(shù)據(jù)源模塊。
硬件ila測試結(jié)果如下：（完整代碼運(yùn)行后無水?。?/p>
vio設(shè)置SNR=25db
vio設(shè)置SNR=10db
局部放大：
硬件測試操作步驟可參考程序配套的操作視頻。
2.算法涉及理論知識概要
四頻移鍵控（4FSK）是一種常用的數(shù)字調(diào)制方法，具有較高的頻帶利用率和抗干擾性能。它利用不同的頻率來傳輸二進(jìn)制數(shù)據(jù)，通常應(yīng)用于無線通信和數(shù)據(jù)傳輸?shù)阮I(lǐng)域。
2.1 原理與數(shù)學(xué)公式
4FSK調(diào)制的基本原理是將輸入的二進(jìn)制數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為不同頻率的信號，以實現(xiàn)數(shù)據(jù)的傳輸。解調(diào)則是將接收到的不同頻率的信號還原為原始的二進(jìn)制數(shù)據(jù)。
在4FSK調(diào)制中，輸入的二進(jìn)制數(shù)據(jù)被分為兩組，每組有兩個比特。根據(jù)這兩個比特的值，選擇相應(yīng)的頻率輸出。具體來說，有四個頻率f1、f2、f3、f4與之對應(yīng)，每個頻率都代表一個二進(jìn)制組合（00、01、10、11），即十進(jìn)制的0，1，2，3。
頻率選擇：根據(jù)輸入的比特組合選擇相應(yīng)的頻率輸出。例如，當(dāng)輸入為“00”時，選擇頻率f1；當(dāng)輸入為“01”時，選擇頻率f2；當(dāng)輸入為“10”時，選擇頻率f3；當(dāng)輸入為“11”時，選擇頻率f4。
調(diào)制信號：將選擇的頻率進(jìn)行幅度調(diào)制，以便在傳輸過程中具有更好的抗干擾性能。通常采用開關(guān)鍵控（OOK）或脈沖幅度調(diào)制（PAM）等方法進(jìn)行幅度調(diào)制。
解調(diào)信號：在接收端，根據(jù)不同頻率的信號進(jìn)行解調(diào)。首先通過帶通濾波器將所需的頻率信號提取出來，然后通過解調(diào)器將其還原為原始的二進(jìn)制數(shù)據(jù)。解調(diào)方法通常采用相干解調(diào)或非相干解調(diào)。
2.2 幀同步
在數(shù)字通信中，信息通常是以幀為單位進(jìn)行組織和傳輸?shù)摹降哪康氖谴_定每一幀的起始位置，以便接收端能夠正確地解調(diào)出每幀中的數(shù)據(jù)。
設(shè)發(fā)送的幀結(jié)構(gòu)為：幀同步碼+ 信息碼元序列 。幀同步碼是具有特定規(guī)律的碼序列，用于接收端識別幀的起始。
幀同步的過程就是在接收序列中尋找與幀同步碼匹配的位置，一旦找到匹配位置，就確定了幀的起始位置，后續(xù)的碼元就可以按照幀結(jié)構(gòu)進(jìn)行正確的劃分和處理。
3.Verilog核心程序
//產(chǎn)生模擬測試數(shù)據(jù)
wire signed[1:0]o_msg;
wire o_en;
signal signal_u(
.i_clk (i_clk),
.i_rst (~i_rst),
.o_bits(o_msg),
.o_en ?(o_en)
);
//設(shè)置SNR
wire signed[7:0]o_SNR;
vio_0 your_instance_name (
.clk(i_clk), ???????????????// input wire clk
.probe_out0(o_SNR) ?// output wire [7 : 0] probe_out0
);
reg signed[7:0]i_SNR;
wire signed[15:0]o_carrier1;
wire signed[15:0]o_carrier2;
wire signed[15:0]o_carrier3;
wire signed[15:0]o_carrier4;
wire signed[15:0]o_fsk;
wire signed[15:0]o_fsk_Rn;
wire [1:0]o_bits_data;//數(shù)據(jù)
wire [1:0]o_bits_head;//幀頭
wire [7:0]o_peak;//幀頭檢測峰值
wire ?o_en_data;//數(shù)據(jù)使能
wire ?o_en_pn;//幀頭使能
wire ?o_frame_start;//幀檢測標(biāo)記
wire signed[31:0]o_error_num;
wire signed[31:0]o_total_num;
FSK uut(
.i_clk(i_clk),
.i_rst(~i_rst),
.i_en(o_en),
.i_SNR(o_SNR),
.i_bits(o_msg),
.o_carrier1(o_carrier1),
.o_carrier2(o_carrier2),
.o_carrier3(o_carrier3),
.o_carrier4(o_carrier4),
.o_fsk(o_fsk),
.o_fsk_Rn(o_fsk_Rn),
.o_de_fsk1(),
.o_de_fsk2(),
.o_de_fsk3(),
.o_de_fsk4(),
.o_bits(),
.o_bits_data ?????(o_bits_data),
.o_bits_head ?????(o_bits_head),
.o_peak ??????????(o_peak),
.o_en_data ???????(o_en_data),
.o_en_pn ?????????(o_en_pn),
.o_frame_start ???(o_frame_start),
.o_error_num ?????(o_error_num),
.o_total_num ?????(o_total_num)
);
//ila篇內(nèi)測試分析模塊140
ila_0 ila_u (
.clk(i_clk), // input wire clk
.probe0({
o_msg,o_SNR,o_fsk[15:6],o_fsk_Rn[15:6],//30
o_error_num[15:0],o_total_num[23:0],//40
//14
o_en_pn,o_frame_start,
o_en_data,
o_peak,
o_bits_head,
o_bits_data
})
);
endmodule
