芯片測試之VIH/VIL

在數(shù)字電路中,定義輸入電壓值高于某一閾值時(shí),稱之為輸入高電平(VIH),當(dāng)輸入電壓值低于某一閾值,稱之為輸入低電平(VIL);

在測試過程中,無法直觀的測量輸入電平,而是通過功能測試來判斷輸入電平是否符合設(shè)計(jì)規(guī)范;

首次給DUT電源供電(最壞情況是低拉偏,最嚴(yán)厲的情況)然后設(shè)置VIL和VIH到極限值,是輸入電壓符合邏輯“0”的最大電壓VIL,使輸入電壓符合邏輯“1”的最小電壓為VIH,此條件為輸入電平測試最嚴(yán)苛的條件,然后執(zhí)行相應(yīng)的測試向量,通過測試向量是否執(zhí)行成功來判斷VIL和VIH是否符合要求;


?著作權(quán)歸作者所有,轉(zhuǎn)載或內(nèi)容合作請聯(lián)系作者
【社區(qū)內(nèi)容提示】社區(qū)部分內(nèi)容疑似由AI輔助生成,瀏覽時(shí)請結(jié)合常識與多方信息審慎甄別。
平臺聲明:文章內(nèi)容(如有圖片或視頻亦包括在內(nèi))由作者上傳并發(fā)布,文章內(nèi)容僅代表作者本人觀點(diǎn),簡書系信息發(fā)布平臺,僅提供信息存儲服務(wù)。

相關(guān)閱讀更多精彩內(nèi)容

友情鏈接更多精彩內(nèi)容