歐洲和美國消費品產(chǎn)品生命周期和可靠性

首先,產(chǎn)品在生命周期預(yù)測和測試中,存在著諸多的內(nèi)外在影響因素,所以精確的預(yù)測和控制產(chǎn)品生命周期在可行性上存在著諸多難題。

歐美在消費品等產(chǎn)品安全和質(zhì)量管理方面,更多的采用產(chǎn)品生命周期的概念。產(chǎn)品生命周期定義可以細分為

可預(yù)見的產(chǎn)品生命周期、實際產(chǎn)品生命周期等。對于產(chǎn)品生命周期的預(yù)估,一般可以通過測試、統(tǒng)計數(shù)據(jù)和統(tǒng)計算法,進行建模分析,常見的MTBF,

威布爾分布是測試和建模分析工具。

在可靠性測試方面,IEC 60068是電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗的系列標準??煽啃詼y試相關(guān)項目和標準清單,可以參考文章結(jié)尾引述。

歐盟在EU Blue guide和風(fēng)險評估方法論中提到在整個可預(yù)見的產(chǎn)品生命周期內(nèi)要進行評估可能發(fā)生的風(fēng)險類型、概率、嚴重程度和影響。

具體到特殊的產(chǎn)品類別,例如家電安規(guī)標準60335會對關(guān)鍵元器件的耐久性有要求,例如開關(guān)、溫控器、繼電器要滿足最低的耐久要求,吸塵器的電源線要滿足拉伸等耐久測試,電水壺要滿足插拔等耐久測試,這些屬于強制安全要求。

在性能和能效法規(guī)中,也對部分產(chǎn)品有要求,例如吸塵器的666/2013 EU指令中,電機的功能要滿足500小時,軟管要求滿足40000次搖擺測試。這些也屬于強制性要求。

ISO 14001則從環(huán)境保護的角度對產(chǎn)品生命周期有所要求,但是A6.1.2也提出,ISO 14001體系管理評估也并不要求做出詳細的生命周期評估。

在歐盟性能和環(huán)保相關(guān)法規(guī)中,一般會要求制造商提供技術(shù)文件,說明產(chǎn)品在產(chǎn)品生命周期結(jié)束后,如何去拆解、循環(huán)和處理廢棄產(chǎn)品。

美國在醫(yī)療器械方面管理方面,F(xiàn)DA草案提出通過文件記錄保存時間來控制產(chǎn)品在使用后的安全和質(zhì)量管理,ISO

13485第4.2.3章節(jié)和4.2.4章節(jié)要求保存產(chǎn)品生命周期內(nèi)的記錄,在ISO/TR

14969中則給出了建議,如何對產(chǎn)品生命周期進行文件建檔,以及如何去判定產(chǎn)品生命周期。

產(chǎn)品生命周期的概念和保修期的概念不同,例如在歐盟、德國一般對家電等消費品沒有強制性法規(guī)要求保修期,產(chǎn)品的保修期由制造商、品牌商提供,作為一種對消費者權(quán)益保障的市場行為。對于部分商品,保修期也可以通過購買延長保修期服務(wù)。在德國如果使用6個月以上,產(chǎn)品出現(xiàn)故障,一般消費者需要證明是產(chǎn)品本身缺陷,而不是故意損壞產(chǎn)品導(dǎo)致產(chǎn)品出現(xiàn)問題。

產(chǎn)品在出現(xiàn)故障后,制造商或其售后維修人員通過維修、替換貨等方法延長產(chǎn)品使用壽命。

當然,如果有產(chǎn)品或其部件無法證明滿足強制性標準和法規(guī)要求,那么制造商存在著合規(guī)風(fēng)險。

可靠性檢測項目包括:

自然環(huán)境可靠性測試:高溫、低溫、溫度沖擊、溫度循環(huán)、濕度、恒定濕熱、交變濕熱、鹽霧試驗等;

動力環(huán)境可靠性測試:振動試驗、機械沖擊試驗、跌落試驗、運輸包裝試驗等;

戶外環(huán)境可靠性測試:太陽輻照、熒光紫外、霉菌、腐蝕氣體、外殼防護等級、沙塵、淋雨、凝露等

綜合環(huán)境可靠性測試:兩綜合試驗(振動-溫度、振動-濕度)、三綜合試驗(振動-溫度-濕度)

壽命測試:高溫工作壽命試驗、低溫工作壽命試驗、耐久性試驗等;?? 加速壽命測試 :加速壽命試驗(ALT)、高加速壽命試驗(HALT)等;

可靠性篩選試驗:環(huán)境應(yīng)力篩選試驗、高加速應(yīng)力篩選 HASS等;

可靠性鑒定、驗收試驗:可靠性鑒定試驗、可靠性驗收試驗。

氣候環(huán)境類測試:

高溫測試GB/T 2423.2 IEC 60068-2-2 EIA-364-17

低溫測試GB/T 2423.1 IEC 60068-2-1 EIA-364-59

快速溫變測試GB/T 2423.22 IEC60068-2-14

冷熱沖擊測試GB/T 2423.22 IEC60068-2-14 EIA-364-32 …

恒溫恒濕測試GB/T 2423.3 IEC 60068-2-78 MIL-STD-202

溫度變化測試GB/T 2423.22 IEC60068-2-14

交變濕熱GB/T 2423.4 IEC 60068-2-30

溫濕度組合循環(huán)測試GB/T 2423.34 IEC60068-2-38 MIL-STD-202

鹽霧測試GB/T 2423.17 IEC 60068-2-11 GB/T 10125 …

IP等級測試IEC 60529 GB/T 4208 IEC 60598

UV測試ISO 4892.3 GB/T 16422.3 ASTM G 154 …

氙燈測試ISO 4892.2 GB/T 16422.2 ASTM G 155 …

氣體腐蝕測試EIA-364-65 GB/T 2423.51 IEC 60068-2-60 …

低氣壓測試GB/T 2423.21 IEC 60068-2-13

臭氧老化測試GB/T 7762 ISO 1431-1

高壓蒸煮測試JESD22-A102-C JESD22-A110B JESD22-A118

機械類測試:

振動測試GB/T 2423.56 IEC 60068-2-64 ASTM D4728 …

沖擊測試GB/T2423.5 IEC60068-2-27 EIA-364-27 …

碰撞測試IEC 60068-2-27 GB/T 2423.6 GB/T 4857.20

跌落測試GB/T 2423.8 ISO 2248 GB/T 4857.5?? RCA

紙帶摩擦測試ASTM F 2357

酒精,橡皮,鉛筆摩擦測試GB/T 6739 ASTM D 3363

接觸電阻測試EIA-364-23 EIA-364-06 MIL-STD-202

絕緣電阻測試EIA-364-21 MIL-STD-202

耐電壓測試EIA-364-20 MIL-STD-202

劃格測試ASTM D 3359

插拔力測試EIA-364-13

耐久性測試EIA-364-09

線材搖擺測試EIA-364-41

綜合類測試:

三綜合測試GB/T 2423.35 GB/T 2423.36?? HALT/HASS/

包裝產(chǎn)品ISTA測試1A,1B,1C,1D,2A,2B,2D,2E

GB/T 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB/T 2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法

GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊

GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞

GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)

GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落

GB/T 2423.9-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗方法

GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fc和導(dǎo)則:振動(正弦)

GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fd:寬頻帶隨機振動—一般要求

GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動—高再現(xiàn)性

GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動—中再現(xiàn)性

GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動—低再現(xiàn)性

GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度

GB/T 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗J和導(dǎo)則:長霉

GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分:試驗方法 試驗Ka;鹽霧試驗方法

GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗 試驗Kb:鹽務(wù),交變(氯化鈉溶液)

GB/T 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法

GB/T 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗方法

GB/T 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法

GB/T 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法

GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q:密封

GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗 試驗Sa:模擬地面上的太陽輔射

GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗

GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗

GB/T 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗

GB/T 2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗T:錫焊試驗方法

GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度

GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬

GB/T 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法

GB/T 2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗方法

GB/T 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法

GB/T 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法

GB/T 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/Afc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法

GB/T 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗ZBFc: 散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法

GB/T 2423.371989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗L:砂塵試驗方法

GB/T 2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗R:水試驗方法

GB/T 2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee:彈跳試驗方法

GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風(fēng)壓試驗方法

GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法

GB/T 2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 元件\設(shè)備和其它產(chǎn)品在沖擊(Ea)、碰撞(Eb)、振動(Fc和Fd)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ga)等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則

GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Eg:撞擊 彈簧錘

GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Z/ABDM:氣候順序

GB/T 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ef:撞擊 擺錘

GB/T 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fg:聲振

GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ff:振動—時間歷程法

GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Fe:振動—正弦拍頻法

GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加速試驗

GB/T 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ke:流動混合氣體腐蝕試驗

GB/T 2423.52-2003   電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗77:結(jié)構(gòu)強度與撞擊

GB/T 2423.53-2005   電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Xb:由手的摩擦造成標記和印刷文字的磨損

GB/T 2423.54-2005   電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Xc:流體污染

GB/T 2423.55-2006   電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 環(huán)境測試 試驗Eh:錘擊試驗

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