一種4位sar adc仿真驗(yàn)證

4位sar adc采用下圖的電容陣列,電路如下圖:所有電容的正端(也稱為上極板)與比較器的反相端連接,比較器同相端接Vin,其工作過(guò)程進(jìn)行大致分析見之前的文章《一種4位sar adc工作過(guò)程推導(dǎo)(三)》,下面對(duì)這個(gè)電路進(jìn)行仿真驗(yàn)證。

4bit_adc_step4原理圖(三)

兩個(gè)參考電壓V_{refP}V_{refN}V_{+}=V_{in},假設(shè)\frac{11}{16}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN}<V_{in}<\frac{12}{16}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN}



仿真過(guò)程(一):

繪制仿真原理圖,設(shè)置好參數(shù):Vin=850 mV,VrefP=1.2V,VrefN=0 V,\frac{11}{16}\cdot(1.2-0)+0<V_{in}<\frac{12}{16}\cdot(1.2-0)+0,采用理想開關(guān)(switch)和實(shí)際的開關(guān)(switch2to1)。

4bit_adc仿真原理圖

下圖為仿真波形圖,經(jīng)過(guò)4個(gè)步驟,輸入電壓Vin分別與\frac{V_{refP}-V_{refN}}{2}+V_{refN},\frac{3}{4}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN},\frac{5}{8}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN},\frac{11}{16}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN}進(jìn)行比較,所以Vminus分別為\frac{V_{refP}-V_{refN}}{2}+V_{refN},\frac{3}{4}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN},\frac{5}{8}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN},\frac{11}{16}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN}.

  • step1: V_{minus}=\frac{1}{2}\times1.2=0.6 V
  • step2: V_{minus}=\frac{3}{4}\times1.2=0.9 V
  • step3: V_{minus}=\frac{5}{8}\times1.2=0.75 V
  • step4: V_{minus}=\frac{11}{16}\times1.2=0.825 V
4bit_adc仿真波形圖

仿真過(guò)程(二):

繪制仿真原理圖,設(shè)置好參數(shù):Vin=980 mV,VrefP=1.2V,VrefN=0.4 V,\frac{11}{16}\cdot(1.2-0.4)+0.4<V_{in}<\frac{12}{16}\cdot(1.2-0.4)+0.4,采用理想開關(guān)(switch)和實(shí)際的開關(guān)(switch2to1)。

4bit_adc仿真原理圖2

下圖為仿真波形圖,經(jīng)過(guò)4個(gè)步驟,輸入電壓Vin分別與\frac{V_{refP}-V_{refN}}{2}+V_{refN},\frac{3}{4}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN},\frac{5}{8}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN},\frac{11}{16}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN}進(jìn)行比較,所以Vminus分別為\frac{V_{refP}-V_{refN}}{2}+V_{refN},\frac{3}{4}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN},\frac{5}{8}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN},\frac{11}{16}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN}.

  • step1: V_{minus}=\frac{1}{2}\times(1.2-0.8)+0.4=0.8 V
  • step2: V_{minus}=\frac{3}{4}\times(1.2-0.8)+0.4=1 V
  • step3: V_{minus}=\frac{5}{8}\times(1.2-0.8)+0.4=0.9 V
  • step4: V_{minus}=\frac{11}{16}\times(1.2-0.8)+0.4=0.95 V
4bit_adc仿真波形圖2

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