使用熒光光譜（PL）和時(shí)間分辨熒光光譜（TRPL）來(lái)分析鈣鈦礦薄膜的穩(wěn)態(tài)光學(xué)性質(zhì)和熒光載流子動(dòng)力學(xué)特性。

光致發(fā)光光譜（Photoluminescence Spectroscopy，簡(jiǎn)稱PL譜），指物質(zhì)在光的激勵(lì)下，電子從價(jià)帶躍遷至導(dǎo)帶并在價(jià)帶留下空穴；電子和空穴在各自的導(dǎo)帶和價(jià)帶中通過(guò)弛豫達(dá)到各自未被占據(jù)的最低激發(fā)態(tài)（在本征半導(dǎo)體中即導(dǎo)帶底和價(jià)帶頂），成為準(zhǔn)平衡態(tài)；準(zhǔn)平衡態(tài)下的電子和空穴再通過(guò)復(fù)合發(fā)光，形成不同波長(zhǎng)光的強(qiáng)度或能量分布的光譜圖。

時(shí)間分辨光致發(fā)光譜（TRPL）是在脈沖單色光照射下，探測(cè)物質(zhì)激發(fā)態(tài)輻射躍遷光譜隨時(shí)間變化動(dòng)力學(xué)過(guò)程的光譜技術(shù)。在TRPL中明顯不同的衰變組分意味著存在被缺陷顯著影響的電荷載流子亞群。一種很可能的機(jī)制是，快速衰減的組分是由于鈣鈦礦薄膜的表面缺陷導(dǎo)致的載流子俘獲，而慢衰減組分則反映了受鈣鈦礦薄膜體缺陷限制的載流子壽命。在進(jìn)行光激發(fā)時(shí)，一部分電荷載流子填充缺陷，導(dǎo)致快速的衰減組分，而其它的載流子則可以在更長(zhǎng)的時(shí)間尺度上弛豫，而不再受薄膜表面缺陷的影響。

光電一體化時(shí)間分辨光譜儀HiLight是Oriental Spectra自主研發(fā)的業(yè)內(nèi)首款光電一體化時(shí)間分辨光譜儀（又稱光致/電致穩(wěn)瞬態(tài)/時(shí)間分辨熒光光譜儀TRPL），該設(shè)備擁有光致和電致熒光光譜模塊，可以對(duì)各類型的光致（熒光、磷光、延遲熒光等）和電致發(fā)光樣品進(jìn)行全面的穩(wěn)、瞬態(tài)測(cè)試分析，可在200 nm至5500 nm、寬波長(zhǎng)、2.5 ns至1200 s寬時(shí)域范圍上對(duì)微弱發(fā)光信號(hào)進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量。基于其光電一體的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)，HiLight可同時(shí)用于材料與器件的研究，從而極大地拓展了傳統(tǒng)熒光光譜儀的適用范圍。基于模塊化的設(shè)計(jì)理念，HiLight可以提供靈活的配置方案，以適應(yīng)多樣化的測(cè)試需求，可廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、分析科學(xué)、生物醫(yī)藥、食品科學(xué)、石油化工、地質(zhì)學(xué)、考古、法醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。