從Page performance看每片MLC的可靠性并不相同

如果所有的page performace在每次program時(shí)都是基本相同的,那么,這個(gè)Nand Flash顆粒應(yīng)該是最穩(wěn)定、最可靠的,因此,通過觀察每個(gè)page performance的分布,可以大致看出Nand Flash的可靠程度。

盡管每個(gè)Nand Flash的datasheet都會(huì)注明Erase、Program、Read Performance的詳細(xì)時(shí)間,事實(shí)上,這些Performance是將Lower page和Upper Page進(jìn)行了平均,那么,給人的誤導(dǎo)就是每個(gè)page的performance都是一樣的,事實(shí)上,并非如此。

測試方式如下:選擇第1024(03FF)Block,做1000次P/E,生成每次P/E的圖示,曲線越平穩(wěn),說明顆粒越穩(wěn)定,曲線跳動(dòng)越大,說明顆粒穩(wěn)定性就越差。

page0 program耗時(shí),看上去穩(wěn)定性還不錯(cuò)

一個(gè)情況不是很理想的Lower page的耗時(shí):

一個(gè)不太理想的Upper page的耗時(shí):

小結(jié):

總體來看,page program的分布比較凌亂,作為一個(gè)新的3D nand樣品,可靠性也許還有提升的空間。

再看Erase:

從圖片可以得出結(jié)論以及一些有意義的實(shí)際用途:

1、Block隨Erase次數(shù)增加,proformance時(shí)間會(huì)變長;

2、這個(gè)結(jié)論可以用于鑒別二手Nand Flash或者翻新Nand Flash,市場上有很多假貨,這些假貨可能會(huì)導(dǎo)致工程師失業(yè),一些Bug工程師可能熬白了頭都弄不明白是Nand本身導(dǎo)致的,拼了老命去調(diào)試軟件,結(jié)果只會(huì)越調(diào)越差。

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