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超聲波SAT作為一種快速無(wú)損的檢測(cè)方式，在功率半導(dǎo)體的無(wú)損檢測(cè)中有著廣泛的應(yīng)用。經(jīng)常用來(lái)檢測(cè)材料的內(nèi)部缺陷空洞，連接層的界面分層等，但是在實(shí)際使...
X-Ray檢測(cè)技術(shù)自20世紀(jì)70年代開始應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域以來(lái)，憑借其在微米范圍內(nèi)對(duì)材料缺陷分析的高精度優(yōu)勢(shì)，逐漸成為無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的重要技術(shù)手段。隨...
潮敏物料主要是指非密封封裝的IC，受潮后主要失效模式為內(nèi)部分層。在電子組裝領(lǐng)域，潮敏元器件一直是影響產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵因素之一。這些元器件受...
引言 在汽車智能化與電動(dòng)化浪潮下，AEC-Q102認(rèn)證已成為光電器件進(jìn)入車載供應(yīng)鏈的“通行證”。該標(biāo)準(zhǔn)由汽車電子委員會(huì)（AEC）制定，專為分立光...
失效現(xiàn)象剖析 這是因?yàn)?，硅膠具有吸水透氣的物理特性，易使導(dǎo)電銀膠受潮，水分子侵入后在含銀導(dǎo)體表面電解形成氫離子和氫氧根離子，銀膠中的銀在直流電場(chǎng)...
EBSD技術(shù)概覽 電子背散射衍射（EBSD）技術(shù)是一種先進(jìn)的材料表征工具，它基于電子與材料表面晶體原子相互作用時(shí)產(chǎn)生的背散射現(xiàn)象。 當(dāng)高能電子束...
雪崩二極管的原理與結(jié)構(gòu) 雪崩二極管（Avalanche Photodiode，簡(jiǎn)稱APD）是一種利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來(lái)放大光電信號(hào)的光檢測(cè)二極...
AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)的起源與價(jià)值 隨著汽車電子系統(tǒng)的日益復(fù)雜，電子器件必須能夠在極端的溫度、濕度、振動(dòng)和電磁干擾等惡劣條件下保持性能。AEC-Q...
在微觀世界的探索中，顯微鏡一直是科學(xué)家們最重要的工具之一。隨著科技的發(fā)展，顯微鏡的種類和功能也日益豐富。聚焦離子束顯微鏡（Focused Ion...