超聲波SAT作為一種快速無(wú)損的檢測(cè)方式,在功率半導(dǎo)體的無(wú)損檢測(cè)中有著廣泛的應(yīng)用。經(jīng)常用來(lái)檢測(cè)材料的內(nèi)部缺陷空洞,連接層的界面分層等,但是在實(shí)際使用中SAT的分析中經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)誤...
超聲波SAT作為一種快速無(wú)損的檢測(cè)方式,在功率半導(dǎo)體的無(wú)損檢測(cè)中有著廣泛的應(yīng)用。經(jīng)常用來(lái)檢測(cè)材料的內(nèi)部缺陷空洞,連接層的界面分層等,但是在實(shí)際使用中SAT的分析中經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)誤...
X-Ray檢測(cè)技術(shù)自20世紀(jì)70年代開(kāi)始應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域以來(lái),憑借其在微米范圍內(nèi)對(duì)材料缺陷分析的高精度優(yōu)勢(shì),逐漸成為無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域的重要技術(shù)手段。隨著電子產(chǎn)品的微小化以及對(duì)元部件...
潮敏物料主要是指非密封封裝的IC,受潮后主要失效模式為內(nèi)部分層。在電子組裝領(lǐng)域,潮敏元器件一直是影響產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵因素之一。這些元器件受潮后容易出現(xiàn)各種失效問(wèn)題,給生...
引言 在汽車智能化與電動(dòng)化浪潮下,AEC-Q102認(rèn)證已成為光電器件進(jìn)入車載供應(yīng)鏈的“通行證”。該標(biāo)準(zhǔn)由汽車電子委員會(huì)(AEC)制定,專為分立光電器件設(shè)計(jì),通過(guò)高溫循環(huán)、高濕...
失效現(xiàn)象剖析 這是因?yàn)?,硅膠具有吸水透氣的物理特性,易使導(dǎo)電銀膠受潮,水分子侵入后在含銀導(dǎo)體表面電解形成氫離子和氫氧根離子,銀膠中的銀在直流電場(chǎng)及氫氧根離子的作用下被離子化后...
EBSD技術(shù)概覽 電子背散射衍射(EBSD)技術(shù)是一種先進(jìn)的材料表征工具,它基于電子與材料表面晶體原子相互作用時(shí)產(chǎn)生的背散射現(xiàn)象。 當(dāng)高能電子束撞擊材料表面時(shí),與晶體原子相互...
雪崩二極管的原理與結(jié)構(gòu) 雪崩二極管(Avalanche Photodiode,簡(jiǎn)稱APD)是一種利用載流子雪崩倍增效應(yīng)來(lái)放大光電信號(hào)的光檢測(cè)二極管。其核心原理是利用載流子雪崩...
AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)的起源與價(jià)值 隨著汽車電子系統(tǒng)的日益復(fù)雜,電子器件必須能夠在極端的溫度、濕度、振動(dòng)和電磁干擾等惡劣條件下保持性能。AEC-Q102標(biāo)準(zhǔn)由汽車電子委員會(huì)(A...
在微觀世界的探索中,顯微鏡一直是科學(xué)家們最重要的工具之一。隨著科技的發(fā)展,顯微鏡的種類和功能也日益豐富。聚焦離子束顯微鏡(Focused Ion Beam, FIB)作為一種...
引言 在汽車電子制造領(lǐng)域,焊接質(zhì)量是決定元器件與電路板連接可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。對(duì)于LED車燈而言,其引線框架、支架或封裝基板的可焊性直接決定了焊接工藝的穩(wěn)定性與長(zhǎng)期性能。AEC...
聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)是一種集多種先進(jìn)技術(shù)于一體的微觀分析儀器,其工作原理基于離子束與電子束的協(xié)同作用。 掃描電子顯微鏡(SEM)工作機(jī)制 掃描電子顯微鏡(SE...
無(wú)鹵與鹵素含量測(cè)試的概念 無(wú)鹵(Halogen Free,HF)并非簡(jiǎn)單地把鹵族元素“清零”,而是指材料或成品中氟(F)、氯(Cl)、溴(Br)、碘(I)四項(xiàng)元素的總和或單項(xiàng)...
金的物理性質(zhì) 金,作為一種在自然界中以單質(zhì)形式存在的貴金屬,其物理性質(zhì)極為獨(dú)特。在常溫下,金呈現(xiàn)為固體狀態(tài),密度極高,達(dá)到每立方米19.320噸,這一高密度特性使其在眾多金屬...